CHERIDI, Nour ElhoudaMEFTAH, Ali2026-01-152026-01-152025-11-18http://dspace.univ-skikda.dz:4000/handle/123456789/5730Cette thèse a étudié les modifications structurales induites dans la silice vitreuse (SiO₂) par irradiation ionique à basse énergie, en utilisant des ions N⁵⁺ à 75 keV et Ar¹¹⁺ à 165 keV. L’objectif principal était de discerner la contribution respective des pertes d’énergie nucléaire et électronique aux transformations observées. La spectroscopie infrarouge par transformée de Fourier (FTIR) a révélé une diminution de l’intensité de la bande TO3 à 1078 cm⁻¹, accompagnée de l’apparition d’un pic à 1044 cm⁻¹, traduisant une distorsion des angles de liaison Si–O–Si et une compaction du réseau vitreux. Les mesures par microscopie à force atomique (AFM) ont montré que les faibles dépôts d’énergie nucléaire, tels que 80 eV/nm pour les ions N⁵⁺, n’entraînent que des modifications mineures de la rugosité de surface, tandis que les dépôts plus importants, de l’ordre de 420 eV/nm pour les ions Ar¹¹⁺, provoquent une augmentation significative de la rugosité et l’émergence de reliefs nanométriques marqués. L’analyse comparative avec le modèle unifié de la pointe thermique (u-TSM) a confirmé que la perte d’énergie nucléaire est le mécanisme dominant responsable de ces changements structuraux et morphologiques, tandis que la perte d’énergie électronique a un rôle secondaire. Cette étude approfondit la compréhension des mécanismes d’irradiation à basse énergie dans la silice vitreuse, avec des perspectives pour le développement de matériaux plus résistants aux environnements radiatifs extrêmes.frSilice vitreuse, Irradiation ionique, Modifications structuralesThesis