Une approche de test basée sur les diagrammes d’états finis

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dc.contributor.authorBRAHIMI ,Hadjer
dc.contributor.authorKENEF, Ikram
dc.contributor.authorKISSOUM ,Y
dc.date.accessioned2024-04-04T07:36:05Z
dc.date.available2024-04-04T07:36:05Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractLa stratégie Round-Trip Path (RTP) est connue pour générer la suite de tests basée sur l'état la plus rentable. Cependant, certaines études ont insisté sur le fait que les suites ne suffisent pas. Ils ont souligné que les suites RTP ne testent pas certains éléments réalistes scénarios, ce qui pourrait entraîner une mauvaise détection des défauts. Un algorithme de parcours empêche inévitablement les suites de couvrant certaines paires d'événements, ce qui pourrait être un facteur qui provoque des omissions de test. Par conséquent, nous étudions comment beaucoup et quelles paires d'événements la suite ne couvre pas. Ensuite, nous déterminons si l'augmentation de la suite pour couvrir toutes les paires d'événements peuvent améliorer l'efficacité de manière rentable. À cette fin, des paires d'événements sont identifiées. Ensuite, les paires d'événements couvertes sont dérivées d'un arbre RTP. Ensuite, les paires d'événements à couvrir sont calculées. Enfin, l'arbre est augmenté pour couvrir les paires de transitions que les paires d'événements à couvrir peuvent déclencher
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-skikda.dz:4000/handle/123456789/758
dc.language.isofr
dc.publisherFaculté des Sciences
dc.titleUne approche de test basée sur les diagrammes d’états finis
dc.title.alternativeGénie logiciel avancé et applications - (GLAA) - 2023
dc.type Mémoire de Master
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