Synergie des dépôts d'énergie d'origine électronique et nucléaire dans les modifications induites aux ions de basse énergie dans la silice vitreuse.
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Date
2025-11-18
Authors
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Publisher
Université 20 Août 1955-Skikda
Abstract
Cette thèse a étudié les modifications structurales induites dans la silice vitreuse (SiO₂)
par irradiation ionique à basse énergie, en utilisant des ions N⁵⁺ à 75 keV et Ar¹¹⁺ à 165 keV.
L’objectif principal était de discerner la contribution respective des pertes d’énergie nucléaire et
électronique aux transformations observées. La spectroscopie infrarouge par transformée de
Fourier (FTIR) a révélé une diminution de l’intensité de la bande TO3 à 1078 cm⁻¹, accompagnée
de l’apparition d’un pic à 1044 cm⁻¹, traduisant une distorsion des angles de liaison Si–O–Si et une
compaction du réseau vitreux. Les mesures par microscopie à force atomique (AFM) ont montré
que les faibles dépôts d’énergie nucléaire, tels que 80 eV/nm pour les ions N⁵⁺, n’entraînent que
des modifications mineures de la rugosité de surface, tandis que les dépôts plus importants, de
l’ordre de 420 eV/nm pour les ions Ar¹¹⁺, provoquent une augmentation significative de la rugosité
et l’émergence de reliefs nanométriques marqués. L’analyse comparative avec le modèle unifié de
la pointe thermique (u-TSM) a confirmé que la perte d’énergie nucléaire est le mécanisme
dominant responsable de ces changements structuraux et morphologiques, tandis que la perte
d’énergie électronique a un rôle secondaire. Cette étude approfondit la compréhension des
mécanismes d’irradiation à basse énergie dans la silice vitreuse, avec des perspectives pour le
développement de matériaux plus résistants aux environnements radiatifs extrêmes.
Description
Keywords
Silice vitreuse, Irradiation ionique, Modifications structurales