Caractérisation de couches minces de ZnO élaborées par évaporation thermique pour des applications photovoltaïques
| dc.contributor.author | Abdelhakim, ZAIER | |
| dc.contributor.author | A., MEFTAH | |
| dc.date.accessioned | 2024-04-16T12:12:28Z | |
| dc.date.available | 2024-04-16T12:12:28Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.description.abstract | Dans ce travail, nous avons élaboré des couches minces d’oxyde de Zinc (ZnO) pur, dopé en aluminium ou en cuivre sur des substrats en verre par évaporation thermique à partir d’une poudre d’oxyde de zinc (ZnO) dans le but d’améliorer les propriétés physiques des couches pour des applications photovoltaïques. Les couches déposées ont été analysées par la Diffraction des Rayons X (DRX), le profilomètre de surface, la spectrométrie UV-Visible et le dispositif des quatre pointes. La DRX confirme que les couches minces se cristallisent dans la structure hexagonale de type wurtzite. La caractérisation optique sur une gamme de 200 à 900 nm montre que les films sont transparents à 90 % dans la région visible. La valeur minimale de la résistivité électrique dans les couches minces de ZnO dopé en aluminium est de 0.043 Ω.cm. | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.univ-skikda.dz:4000/handle/123456789/1076 | |
| dc.language.iso | fr | |
| dc.publisher | Université 20 août 1955 - SKIKDA | |
| dc.title | Caractérisation de couches minces de ZnO élaborées par évaporation thermique pour des applications photovoltaïques | |
| dc.type | Thesis |