Browsing by Author "Gacem , A"
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Item Effet de charge sur l’évolution des vitesses de propagations des ondes acoustiques(Faculté des Sciences, 2022) LITIME , Meriem ; Gacem , ALes technologies basées sur l'exploitation des propriétés spécifiques des couches dites minces se sont fortement développées à la fin du 20ème siècle, et sont devenues l'une des voies les plus importantes de progrès tant en ce qui concerne la miniaturisation que le développement de nouveaux capteurs ; dont la réalisation ne pourrait se faire sans cette technologie. Les mécanismes microscopiques, à la base de la relation structure-propriétés physiques des films minces, connues par ses faibles épaisseurs, sont encore très mal identifiées pour un grand nombre de systèmes métal/métal, métal/céramique, métal/semiconducteurs, oxide/semiconducteur ou oxyde/métal. L’approche de ce délicat problème commence par le contrôle de la croissance des films minces, qui nécessite une optimisation de la technique de dépôt et donc une très bonne connaissance de l’influence des paramètres expérimentaux qui sont souvent nombreux et interdépendants. Les nano couches peuvent avoir des propriétés très différentes de celles des matériaux massifs, la compréhension des propriétés de ces systèmes nécessite une caractérisation précise de leur structure et de leur morphologie ainsi que d'étudier les effets dus aux contraintes mécaniques et aux dimensions réduites des épaisseurs. Dans ce contexte et à la différence des travaux déjà consacrés à l’étude de la dispersion des vitesses de propagation des ondes acoustiques (de volumes ou de surface), nous exposons les effets des épaisseurs de couche (d) sur la vitesse de Rayleigh (VR). Plusieurs structures couches minces (Al, AlN, Cr, Cu, SiC, SiO2, Si3N4 and ZnO) déposées sur différents substrats Al2O3 ont été considérées. L'analyse des résultats ont mené à évoluer le comportement dispersif (positive ou négative) de la vitesse de Rayleigh. Ainsi, elles seraient de grande importance dans la prévision et la détermination des paramètres élastiques de plusieurs couches appartenant à divers types de matériaux.Item Étude de l’effet de la température de dépôt sur les propriétés structurales, électriques et optiques du ZnO déposé sur le verre(faculté des sciences , 2023) Bouzettouta , Amira; Gacem , ALes propriétés structurels et électriques des couches minces de ZnO déposées par la méthode de revêtement par pulvérisation magnétron RF ont été étudiées, telles que : la position du pic (002), paramètre de maille (c), taille des grains (D), contrainte (s) et la résistivité électrique (r) . Les films minces de ZnO ont été déposés sur un substrat de verre avec différentes épaisseurs 55, 100, 150, 200, 300, 450 et 600 nm à différentes températures de dépôt allant de RT à 600 °C. afin d'identifier à quelles températures de dépôt les films de ZnO passent d'un film dense et compact à un réseau de colonnes. Les résultats ont montré que les caractéristiques des couches minces de ZnO dépendent fortement de la température de dépôt et des épaisseurs des couches minces. Cependant, les images AFM ont montré que la température de dépôt affecte la morphologie de surface des films. Alors que les propriétés structurales déterminées par mesure XRD montrent qu'à basse température (< 400 °C), la taille des grains augmente et les surfaces des films de ZnO ont un aspect rugueux. De plus, pour des températures croissantes (> 400 °C), la taille des grains des cristallites diminue et la formation d'une surface homogène, moins rugueuse et dense. Ce travail a conduit à des relations semi-empiriques traduisant quantitativement la variation de taille des grains cristallins ainsi que la nature des contraintes appliquées (compression ou traction) en fonction des épaisseurs de film et des températures de dépôt. Ces résultats sont en bon accord avec Modèle expérimental de Thornton. Étant donné que ce modèle est très souvent appliqué pour décrire la croissance de films pulvérisés de différents matériaux. D'autre part, nous avons observé que la résistivité électrique du film de ZnO de 300 nm d'épaisseur diminuait avec l'augmentation de la température de dépôt. Par conséquent, une relation exponentielle entre la résistivité électrique et la température de dépôt a été déduite.Item Étude du comportement dispersif de la densité volumique de masse des films minces via la microscopie acoustique SAM(Faculté des Sciences, 2022) BOULAININE , Ibtissam; Gacem , ALes technologies basées sur l'exploitation des propriétés spécifiques des couches dites minces se sont fortement développées à la fin du 20ème siècle, et sont devenues l'une des voies les plus importantes de progrès tant en ce qui concerne la miniaturisation que le développement de nouveaux capteurs ; dont la réalisation ne pourrait se faire sans cette technologie. Les mécanismes microscopiques, à la base de la relation structure-propriétés physiques des films minces nanostructurés, connues par ses faibles épaisseurs (de l’ordre de nm), sont encore très mal identifiées pour un grand nombre de systèmes métal/métal, métal/céramique, métal/semiconducteurs, oxyde/ semiconducteur ou oxyde/métal. L’approche de ce délicat problème commence par le contrôle de la croissance des films minces, qui nécessite une optimisation de la technique de dépôt et donc une très bonne connaissance de l’influence des paramètres expérimentaux qui sont souvent nombreux et interdépendants. Les nano couches peuvent avoir des propriétés très différentes de celles des matériaux massifs, la compréhension des propriétés de ces systèmes nécessite une caractérisation précise de leur structure et de leur morphologie ainsi que d'étudier les effets dus aux contraintes mécaniques et aux dimensions réduites des épaisseurs. Dans ce contexte et à la différence des travaux déjà consacrés à l’étude de la dispersion des vitesses de propagation des ondes acoustiques (de volumes ou de surface), nous exposons les effets des épaisseurs de couche (h) sur la densité (r). Plusieurs structures couches minces (Al, AlN, Cr, Cu, SiC, SiO2, Si3N4 and ZnO) déposées sur différents substrats (quartz, acier inoxydable, Si, Al2O3, Cuivre et MgO) ont été considérées. Le calcul, l'analyse et la quantification des résultats ont mené non seulement à évoluer le comportement dispersif (positive ou négative) de la densité, mais également la détermination d’une relation universelle, décrivant la variation densité-épaisseur. Ainsi, elles seraient de grande importance dans la prévision et la détermination des paramètres élastiques de plusieurs couches appartenant à divers types de matériaux.